工业技术
内容简介
本书是嵌入式处理器调试技术方面的专著。随着线上系统集成电路复杂度的增加和快速产品化压力的增大，可调试性设计作为硅后调试的支撑技术已成为集成电路设计领域的研究热点。作者以片上追踪调试技术为对象，基于可观测性的调试原理，全面论述了片上追踪的必要性、基本概念和原理、体系结构关键技术以及应用技术。介绍了调试技术的相关研究，讨论了嵌入式处理器的调试模型，对片上追踪技术的原理、优势和实现模型进行了深入分析，对片上信息采集压缩、追踪数据流的片上传输结构、追踪辅助调试调优应用以及程序控制流错误的在线检测等技术进行了深入研究，并对如何设计实现一套完整的多核片上追踪调试系统进行了详述。本书可为广大嵌入式系统调试人员提供参考和借鉴。
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